電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けDCテストの基礎技術
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2.1 アルゴリズミックパターン例
高速コンバーターなどの小容量メモリ用のテストパターン例です。
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2.2 テスタ構成例
高速コンバーターなどの小容量メモリ用のテスタ構成例です。
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高速コンバーターなどの組み込みメモリテスト
2.組み込み型メモリのテスト構成 目次: 2.1 アルゴリズミックパターン例 2.2 テスタ構成例 .....
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