創作幸房の半導体デバイスのDCテストセミナー資料室3


電子部品や半導体工場の生産技術や品質管理でデバイスの評価・検査に取り組んで、日々目標の達成(テストコスト低減やテスト時間の短縮など)に努めている技術者のお役に立ちたいと考えています。


このサイト創作幸房のテストセミナー資料室シリーズのNo3です。ここではデバイスのDCテストを考えるための基礎技術を取り上げています。

テスト仕様は創作幸房の半導体・電子デバイス用の大型自動検査機器の経験から、またデバイス仕様はカタログなどで公表されている情報に基いています。また資料に引用される場合はソースを明示の上お使いいただけますようお願いいたします。


このサイトの目次です:


 大型の産業用自動検査機器(ATE)におけるDCテストの基礎項目

DC基本テスト:
1.定電流源と定電圧源                             
2.差動電圧測定                             
3.4端子(ケルビン)測定                             
4.ATEにおける(抵抗)測定                            
5.VIソースの基本動作とオペアンプの基本構成    



































あなたが電子計測の壁を感じても
なんとか切り抜けられるように応援しています。




掲載ガイドライン
学習には個人差があります。サイトの訪問者の方に誤解を与えたり不快感を感じるような誇大な表現は極力排除するように努めております。自主掲載ガイドラインを設定して、事実をお伝えし、目的達成に少しでも貢献できますように改善に努めて参ります。

オペアンプの基本構成
オペアンプの基本構成 
シーケンスDC測定の基本動作と構成
シーケンスDC測定の基本動作と構成
組み込みメモリテスト
アルゴリズミックパターン例
テスタ構成例
仕事でミスを重ねないために
失敗しても安全に
失敗にしないでしのぐには
危なくなったら働く仕掛け
右脳を活用するとは?
テストパッケージの開発に応用
著作者のプロファイル
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